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分光輻射計SR-5AS具HDR，高速，操作性新時代SRseries對應(yīng)量程從0.0001cd/m2起的*高級機(jī)型產(chǎn)品概要本產(chǎn)品對應(yīng)超低亮度到超高亮度的量程，高感度及高速的新時代分光輻射計。在測定角2°時能夠測量低為0.0001cd/m2的超低亮度及高達(dá)500,000,000cd/m2超高亮度，在測量超高亮度產(chǎn)品如LED等，不需要外掛ND即可測量。光學(xué)結(jié)構(gòu)的更新，感度提升及內(nèi)部系統(tǒng)改良，大幅縮短測量時間。此外，采用彩色觸控大熒幕，直觀操作，操作性提升。頁面頂部特點(diǎn)?分光測色方式...

特征臺式快速水份測定儀使用近紅外光的反射光在應(yīng)用光照后幾秒鐘內(nèi)顯示結(jié)果樣品容器高度靈活，可在塑料袋上進(jìn)行測量通過作主機(jī)上的按鍵創(chuàng)建校準(zhǔn)曲線規(guī)格測量方法近紅外反射，在底平面投射/接收的光光譜學(xué)濾波器測量點(diǎn)直徑：約25毫米校準(zhǔn)曲線數(shù)量50測量速度正常測量：7秒（根據(jù)設(shè)置）連續(xù)測量：0.5秒間隔顯示有機(jī)EL輸入/輸出USB（用于PCI/O）、RS-232C（用于打印機(jī)輸出）光源鎢絲燈工作濕度范圍5至35°C（無冷凝）/30至80%RH電源100-240伏交流電（50/60Hz），4...

特征強(qiáng)調(diào)Basic性能的Basic模型最小水分含量顯示0.01%，重量顯示5mg使用自動去皮減少漂移兩種類型的測量模式：自動和定時規(guī)格測量方法通過加熱和干燥檢測重量損失樣品質(zhì)量1-80g（可選重量采樣格式）分辨率水分含量/固體含量：0.1%或0.01%（可選）0.01%的指示不保證精度。重量：0.005g測量范圍0-100%（濕基，固含量）0-500%（干基）重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)偏差）重量為5g或以上的樣品，0.1%（使用標(biāo)準(zhǔn)樣品和KettElectricLaboratory確定的測...

防冷劑千分尺M(jìn)DC-PXIP65防護(hù)等級標(biāo)準(zhǔn)價格（不含稅）：21,300日元測量范圍（mm）：0~25*小顯示量（mm）：0.001*有關(guān)產(chǎn)品的*庫存狀況和交貨日期，請與貿(mào)易公司或我們的銷售辦事處聯(lián)系。*商品圖片僅用于說明目的?？赡芘c實(shí)際產(chǎn)品有所不同。請務(wù)必查看產(chǎn)品詳細(xì)信息的規(guī)格。恒壓裝置：棘輪止動裝置產(chǎn)品型號293-240-30MDC-25PX系列測量范圍（mm）：0～25*小顯示量（mm）：0.001293-241-30MDC-50PX系列測量范圍（mm）：25～50*小...

防冷卻液千分尺M(jìn)DC-125~300MXIP65防護(hù)等級標(biāo)準(zhǔn)價格（不含稅）：42,000日元測量范圍（mm）：100~125最小顯示量（mm）：0.001*有關(guān)產(chǎn)品的最新庫存狀況和交貨日期，請與貿(mào)易公司或我們的銷售辦事處聯(lián)系。*商品圖片僅用于說明目的?？赡芘c實(shí)際產(chǎn)品有所不同。請務(wù)必查看產(chǎn)品詳細(xì)信息的規(guī)格。恒壓裝置：棘輪止動裝置帶測量數(shù)據(jù)輸出功能產(chǎn)品型號293-250-30MDC-125MX測定範(fàn)囲(mm):100～125最小顯示量（mm）：0.001293-251-30MDC...

TXRF310Fab系列全內(nèi)反射X射線熒光光譜儀分析痕量從輕元素Na到重元素U的污染物元素采用轉(zhuǎn)子式高功率X射線發(fā)生器和新設(shè)計的入射X射線單色器。過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達(dá)到水平。在封閉X射線管測量時間的1/3內(nèi)即可實(shí)現(xiàn)相同的精度，從而實(shí)現(xiàn)高通量。詢價詢問有關(guān)產(chǎn)品的問題=thumbnailOffset&&index總結(jié)長處規(guī)范事件描述TXRF310Fab1個靶標(biāo)、3個光束系統(tǒng)這是一種方法，它使用三種類型的光譜晶體來提取被測元素的最佳單色X射線束...

TXRF3760系列全內(nèi)反射X射線熒光光譜儀對晶圓表面的污染進(jìn)行無損、非接觸式和高靈敏度分析轉(zhuǎn)子式高功率X射線發(fā)生器和新設(shè)計的入射X射線單色器過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達(dá)到水平。在封閉X射線管測量時間的1/3內(nèi)即可實(shí)現(xiàn)相同的精度，從而實(shí)現(xiàn)高通量。詢價詢問有關(guān)產(chǎn)品的問題=thumbnailOffset&&index總結(jié)長處規(guī)范事件TXRF3760概述1個靶標(biāo)、3個光束系統(tǒng)這是一種方法，它使用三種類型的光譜晶體來提取被測元素的最佳單色X射線束，并將其...

WaferX310系列用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）可以無損、非接觸式方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以無損、非接觸地同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。它與GEM300兼容，并支持300mmFab的在線規(guī)格。XYθZ驅(qū)動式樣品臺（方法）可準(zhǔn)確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可以測量痕量元素。此外，通過安裝...

晶圓/磁盤分析儀3650用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀對各種薄膜的厚度和成分進(jìn)行同步、無損、非接觸分析這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性、非接觸的方式同時分析最大~200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。XYθZ驅(qū)動式樣品臺（方法）可準(zhǔn)確分析各種金屬膜，避免了衍射線的影響。使用4kW高功率X射線管可對超輕元素進(jìn)行高精度分析，例如BPSG薄膜的痕量元素測量和硼分析。它還與C-to-C傳輸機(jī)器人（可選）兼容。它配備了AutoCal（全自動日常檢查和強(qiáng)度...

AZX400用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀將Be~U中的所有元素（包括B、C、N和O）包含在一個單元中，這些元素是重要的半導(dǎo)體材料波長色散X射線熒光（WDX）光譜儀的**模型WDX具有高信噪比和高分辨率，使用可實(shí)現(xiàn)比能量色散X射線熒光（EDX）儀器更準(zhǔn)確的分析。高功率X射線管和專用于超輕元素的光譜晶體可實(shí)現(xiàn)超輕元素測量，例如B、C、N和O，這是EDX無法實(shí)現(xiàn)的。此外，由于Si的影響，難以用EDX分析的Al超薄膜可以通過高分辨率的WDX清晰分離。=thumbnailOffset...